BEDDIAFIA, Y.; 						SAADOUNEA, A.; 						DEHIMIB, L..
 Numerical simulation of radiation damage on the device performance of GaAs MESFETs.
<strong>Science des matériaux (Laboratoire LARHYSS)</strong>, [S.l.], v. 1, avr. 2014.
ISSN 2352-9954.
Disponible à l'adresse&nbsp;: &gt;<a href="https://revues.univ-biskra.dz./index.php/sdm/article/view/293" target="_new">https://revues.univ-biskra.dz./index.php/sdm/article/view/293</a>&gt;. Date de consultation&nbsp;: 24 nov. 2024